Optec

Бесплатный звонок: 8 800 2000 567
en
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567

OPTEC на выставке Металлообработка-2017

Описание страницы

OPTEC на выставке Металлообработка-2017

Компания OPTEC приняла участие в 18-й Международной специализированной выставке «Металлообработка» которая проходила с 15 по 19 мая 2017 года в ЦВК «Экспоцентр» в Москве.

В этом году мы представили на выставке 2 стенда, один из которых был посвящен оборудованию для проведения метрологических измерений и контроля контура и шероховатости поверхности, второй — световой и электронной микроскопии.

Живой интерес вызвал профилометр-контурограф T4HD компании Triebworx, который компания OPTEC впервые представила на выставке «Металлообработка». Это измерительное 4-х осевое устройство предназначено для контроля контура и шероховатости поверхности, что позволяет использовать его в машиностроительной, аэрокосмической и энергетической отраслях промышленности.

Также посетители стенда «Аналитика и метрология» могли выполнить фазовый и элементный анализ своих образцов на приборах рентгеновского анализа материалов Rigaku (рентгенофлюоресцентный спектрометр Supermini 200 и дифрактометр MiniFlex 600) и посмотреть, как работает проекционный микроскоп ZEISS O-Select, предназначенный для проверки точности расстояний, радиусов или углов штампованных и фасонных деталей, а также деталей, выполненных с помощью лазерной резки и литых изделий. Не меньший интерес вызвал и интеллектуальный цифровой микроскоп ZEISS Smartzoom, который идеально подходит для обеспечения гарантии качества продукции практически в любой отрасли промышленности.

Разнообразные решения OPTEC, представленные на стенде компании, дополнил оптический профилометр Contour ELITE компании Bruker, который сочетает передовые разработки в области бесконтактной метрологии поверхностей и подходит для проведения измерений шероховатости поверхности на наноуровне.

На стенде «Микроскопия» компания OPTEC традиционно представила световые микроскопы ZEISS, среди которых были как уже знакомые посетителям выставки Axio Vert, Stemi 508, Axio Observer, которые успешно применяются для изучения образцов и деталей в металлографии, так и новинки — стереомикроскоп SteREO Discovery и зум-микроскоп Axio Zoom

Универсальный исследовательский стереомикроскоп SteREO Discovery идеально подходит для проведения исследований в области машиностроения, приборостроения, металлообрабатывающей промышленности, геологии и минералогии благодаря непрерывной смене увеличений системы и фокусировке изображений во всем диапазоне увеличений. Микроскоп плоского поля Axio Zoom позволяет исследовать объект на небольших увеличениях, но на большом поле и на достаточно большой глубине резкости и делает его незаменимым для рутинных исследований больших по площади образцов, таких как сварочные соединения, печатные платы, фотошаблоны и прочие.

Cреди решений в области электронной микроскопии был представлен электронный сканирующий микроскоп ZEISS EVO. Растровые электронные микроскопы серии EVO MA — основной инструмент при проведении анализа материалов во всех областях материаловедения. Микроскоп позволяет получить превосходное изображение любых объектов от агрегатов и деталей до цеолитов. Модификация микроскопа с большим размером камеры позволяет исследовать более крупные и тяжелые образцы, а так же установить больше дополнительного оборудования.

За дни работы выставки с оборудованием, которое представляет компания OPTEC, успели ознакомиться более 100 представителей машиностроительной, металлургической и обрабатывающей отраслей.


Смотрите также

x