Optec

Бесплатный звонок: 8 800 2000 567
en
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567

Спектроскопия

Спектроскопия

Мы предлагаем оборудование, микроскопы и программное обеспечение для решения задач в области спектроскопии. В каталоге компании представлены масс-спектрометры, системы контроля покрытия, конфокальные рамановские спетрометры и рамановские электронные сканирующие микроскопы.

 

 

Спектроскопия

  • ZEISS AURA handheld NIR

    ZEISS AURA handheld NIR

    Портативное устройство AURA® NIR — это последняя разработка в ряду точных и надежных спектрометров ZEISS, с помощью которого выполнять спектроскопию в ближней инфракрасной области невероятно просто.

  • ZEISS Corona extreme

    ZEISS Corona extreme

    ZEISS Corona extreme — это спектрометрическая система, разработанная для повышения эффективности анализа в сельскохозяйственном производстве. Эта устойчивая и точная система может выдерживать экстремальные рабочие нагрузки и по точности значительно превосходит лабораторные измерения.

  • ZEISS Corona process

    ZEISS Corona process

    Идеально согласованные компоненты в комбинации с новыми системами ProcessAssist компании ZEISS делают Corona process одной из самых безопасных спектрометрических систем. Параметры качества вашего производственного процесса теперь еще проще измерить с помощью ZEISS ProcessAssist.

  • ZEISS FilmDetect

    ZEISS FilmDetect

    Система контроля технологического процесса FilmDetect® представляет собой быстрое и эффективное автономное решение для поточного измерения качества нанесенного покрытия. Она предназначена для измерения толщины пленочного покрытия, определения области верхних пределов отражения и вычисления колориметрических значений. Простая и индивидуально настраиваемая система FilmDetect® может быть внедрена в существующие или новые технологические процессы нанесения покрытия.

  • ZEISS ThinProcess P

    ZEISS ThinProcess P

    ThinProcess® P — это одно- или многоканальная спектрометрическая система, которая измеряет оптические свойства по завершении одного или нескольких этапов нанесения покрытия. Она автоматически выявляет прерывающиеся нижележащие слои, а промежутки использует для сравнения с эталоном.

  • ZEISS ThinProcess Q

    ZEISS ThinProcess Q

    ThinProcess® Q — это траверсная спектрометрическая система, которая измеряет оптические свойства готового изделия. Работает в нескольких режимах автоматического сканирования для измерения предварительно установленных на готовом изделии позиций.

Показать больше

Пресс-центр

Читать все материалы

О компании

Читать далее
. . .

Заинтересованы в сотрудничестве?

Свяжитесь с нами по телефону: 8–800–2000–567 или заполните форму обратной связи:

Отправить
x